연속적으로 생산되는 플로트 유리에서 결함을 탐지하기 위한 장치 및 방법(DEVICE AND METHOD FOR DETECTING FLAWS IN CONTINUOUSLY PRODUCED FLOAT GLASS)

(19) 대한민국특허청(KR)
(12) 공개특허공보(A)
(11) 공개번호 10-2013-0046443
(43) 공개일자 2013년05월07일
(51) 국제특허분류(Int. Cl.)
G01N 21/89 (2006.01)
(21) 출원번호 10-2013-7007510
(22) 출원일자(국제) 2011년09월21일
심사청구일자 2013년03월28일
(85) 번역문제출일자 2013년03월25일
(86) 국제출원번호 PCT/DE2011/001772
(87) 국제공개번호 WO 2012/041285
국제공개일자 2012년04월05일
(30) 우선권주장
10 2010 046 433.3 2010년09월24일 독일(DE)
(71) 출원인
그렌체바흐 마쉬넨바우 게엠베하
독일 86663 아스바흐-보이멘하임 알바누스스트라
쎄 1
(72) 발명자
제른 볼프강
독일 81825 뮌헨 베르거발트스트라쎄 27
크루크 페터
독일 81673 뮌헨 크레일러스트라쎄 22
(뒷면에 계속)
(74) 대리인
제일특허법인
전체 청구항 수 : 총 16 항
(54) 발명의 명칭 연속적으로 생산되는 플로트 유리에서 결함을 탐지하기 위한 장치 및 방법
(57) 요 약
본원 발명은 이송 방향에 대해서 직각으로 연장하고 투과되는 광으로 관찰되는 유리 스트립을 체크함으로써 연속
적으로 생산되는 플로트 유리 밴드 내의 결함을 검출하기 위한 방법 및 장치에 관한 것으로서, a) 모듈형으로 구
성된 체결 브릿지(3) 및 상기 체결 브릿지(3)에 체결된 스캐닝 센서들(2), 그리고 상기 유리 밴드에 대해서 직각
으로 배열된 2개의 투과 조명 수단(20, 23)에 의해서, 상기 플로트 유리 밴드의 유동이 어떠한 갭들도 없이 모니
터링되는 특징, b) 각각의 스캐닝 센서(2)가 조정 기구(14)에 의해서 3개의 공간적 좌표를 따라서 양의 방향 및
음의 방향으로의 배향될 수 있고 그리고 인위적인 측정 평면 형태로 내측으로 피봇될 수 있는 타겟 기구(16)에
의해서 정밀하게 조정될 수 있는 특징, c) 상기 조명 수단(20, 23)이 냉각 기구(21)에 의해서 냉각되는 특징을
포함한다.
공개특허 10-2013-0046443
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대 표 도
(72) 발명자
발러 빈프리트
독일 85614 키르히씨온 스포트플라츠베그 3아
바더 플로리안
독일 82380 파이센베르그 숄스트라쎄 28
공개특허 10-2013-0046443
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특허청구의 범위
청구항 1
이송 방향에 대해서 직각으로 연장하고 투과되는 광으로 관찰되는 유리 스트립을 체크함으로써 연속적으로 생산
되는 플로트 유리 밴드 내의 결함을 검출하기 위한 장치에 있어서,
a) 체크하고자 하는 플로트 유리 밴드의 폭에 따라서 설계된 스캐닝 센서들(2)을 위한 모듈형으로 구성된 체결
브릿지(3)로서, 상기 스캐닝 센서(2)는 커버리지 구역과 관련하여 어떠한 갭도 없이 상기 폭을 커버하고 그리고
상기 플로트 유리 밴드는 일정한 발광 플럭스를 가지는 선형 조명 수단(23) 및 진동 발광 플럭스를 가지는 인접
한 선형 조명 수단(20)에 의해서 갭 없이 투과 조사되는, 체결 브릿지(3)와,
b) 각각의 스캐닝 센서(2)에 대해서 할당되고 그리고 3개의 공간적 좌표를 따라서 양의 방향 및 음의 방향으로
의 각각의 스캐닝 센서(2)의 위치 변화를 허용하는 조정 기구(14)와,
c) 각각의 스캐닝 센서(2)에 대해서 할당되고 그리고 플로트 유리 밴드의 표면 상에서의 스캐닝 센서(2)의 정확
한 정렬을 위해서 인위적인 측정 평면 형태로 피봇팅될 수 있는 타겟 기구(16)와
d) 상기 조명 수단(20, 23)을 냉각시키기 위한 냉각 기구(21)를 포함하는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 2
제 1 항에 있어서,
상기 스캐닝 센서(2)에 의한 결함들의 판정은 2개의 광학적 채널들로부터의 픽셀 측정값들을 비교함으로써 실행
되고,
하나의 채널은 상기 조명 수단(20) 및 조명 수단(23)이 커버하는 구역(A1)의 부분과 관련되는 한편, 다른 채널
은 조명 수단(23) 만이 커버하는 구역(A2)의 연관된 부분과 관련되며, 그리고 이러한 측정값들의 비교 및 평가
는 특정 문턱값들을 고려하면서 실시되는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 3
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
체크되지 않은 유리 밴드의 짧은 단편을 고려하면서, 전체 체결 브릿지(3)는 수리 목적을 위해서 승강 기구(1
3)에 의해서 상승되고 그리고 다시 하강될 수 있는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 4
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 플로트 유리 밴드 상류의 상기 조정 기구(14) 및 연관된 스캐닝 센서(2) 및/또는 조명 수단(20, 23)은 각
각, 제 1 버전의 고장의 경우에, 제 1 버전을 대체할 수 있는 동일한 제 2 버전에 할당되는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 5
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가적인 유리 매개변수들 또는 유리 결함들을 판정하기 위한 특정 조명 수단을 포함하는 추가적인 조명 기구
(4)가 제공되는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
공개특허 10-2013-0046443
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청구항 6
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
각각의 스캐닝 센서(2)는 커버리지 구역 내에서 유리 두께를 측정하기 위한 추가적인 기구에 물리적으로 할당되
는 것을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 7
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가적인 동시 작동 장치에 의해서, 유리 밴드 내의 응력들의 모니터링은 유리 밴드의 폭에 걸쳐 스위핑되는 편
광의 슬라이딩 국소적 공급, 및 유리 밴드의 각각의 측정 지점에서의 동시적인 온도 측정에 의해서 실행되는 것
을 특징으로 하는
결함 검출 장치.
청구항 8
이송 방향에 대해서 직각으로 연장하고 투과되는 광으로 관찰되는 유리 스트립을 체크함으로써 연속적으로 생산
되는 플로트 유리 밴드 내의 결함을 검출하기 위한 방법에 있어서,
a) 모듈형으로 구성된 체결 브릿지(3) 및 상기 체결 브릿지(3)에 체결된 스캐닝 센서들(2), 그리고 상기 유리
밴드에 대해서 직각으로 배열된 2개의 투과 조명 수단(20, 23)에 의해서, 상기 플로트 유리 밴드의 유동이 어떠
한 갭도 없이 모니터링되는 단계와,
b) 각각의 스캐닝 센서(2)가, 조정 기구(14)에 의해서 3개의 공간적 좌표를 따라서 양의 방향 및 음의 방향으로
정렬될 수 있고 그리고 인위적인 측정 평면 형태로 피봇될 수 있는 타겟 기구(16)에 의해서 정밀하게 조정될 수
있는 단계와,
c) 상기 조명 수단(20, 23)이 냉각 기구(21)에 의해서 냉각되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 9
제 8 항에 있어서,
상기 스캐닝 센서(2)에 의한 결함들의 판정은 2개의 광학적 채널들로부터의 픽셀 측정값들을 비교함으로써 실행
되고,
하나의 채널은 상기 조명 수단(20) 및 조명 수단(23)이 커버하는 구역(A1)의 부분과 관련되는 한편, 다른 채널
은 조명 수단(23) 만이 커버하는 구역(A2)의 연관된 부분과 관련되며, 그리고 이러한 측정값들의 비교 및 평가
는 특정 문턱값들을 고려하면서 실시되는 것을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 10
제 8 항 또는 제 9 항에 있어서,
체크되지 않은 유리 밴드의 짧은 단편을 고려하면서, 전체 체결 브릿지(3)는 수리 목적들을 위해서 승강 기구
(13)에 의해서 상승되고 그리고 다시 하강될 수 있는 것을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 11
제 8 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 플로트 유리 밴드 상류의 상기 조정 기구(14) 및 조명 수단(20, 23)은 각각, 제 1 버전의 고장의 경우에,
공개특허 10-2013-0046443
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상기 제 1 버전을 대체할 수 있는 동일한 제 2 버전에 할당되는 것을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 12
제 8 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가적인 유리 매개변수들을 판정하기 위한 특정 조명 수단을 포함하는 추가적인 조명 기구(4)가 제공되는 것을
특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 13
제 8 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
각각의 스캐닝 센서(2)는 커버리지 구역 내에서 유리 두께를 측정하기 위한 추가적인 기구에 물리적으로 할당되
는 것을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 14
제 8 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
추가적인 동시 작동 장치에 의해서, 유리 밴드 내의 응력들의 모니터링은 유리 밴드의 폭에 걸쳐 스위핑되는 편
광의 슬라이딩 국소적 공급, 및 유리 밴드의 각각의 측정 지점에서의 동시적인 온도 측정에 의해서 실행되는 것
을 특징으로 하는
결함 검출 방법.
청구항 15
프로그램이 컴퓨터 내에서 실행될 때, 제 8 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따른 방법 단계들을 실시하기 위
한 프로그램 코드를 가지는
컴퓨터 프로그램.
청구항 16
프로그램이 컴퓨터 내에서 실행될 때, 제 8 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 따른 방법 단계들을 실시하기 위
한 컴퓨터 프로그램의 프로그램 코드를 포함하는
기계-판독가능 캐리어.
명 세 서
기 술 분 야
본원 발명은 연속적으로 생산되는 플로트 유리에서 결함을 검출하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다. [0001]
배 경 기 술
DE 196 43 017 C1 은 유리와 같은 투명한 재료의 대형 평판들(panes)에서 광학적 결함들, 특히 굴절력[0002]
(refractive power)을 판정하기 위한 방법을 개시하며, 그러한 방법에서, 규정된(defined) 패턴을 유리 상으로
투사하고 이러한 패턴을 카메라 상으로 이미지화함으로서, 관찰된 이미지가 평가된다. 이러한 것은 카메라의
많은 수의 인접하여 배열된 픽셀들 상으로 각각 이미지화되는 그리드 패턴의 명-암(light-dark) 시퀀스에 의해
서 이루어지고, 그리고 상기 픽셀들의 수는 명-암 시퀀스의 정수 배가 된다. 이러한 발명의 목적은 임의 기준
패턴 없이도 평판의 적어도 하나의 차원을 따른 광학적 결함이 국소적으로 판정될 수 있는 방법을 구체화하기
위한 것이다. 플로트 유리의 연속적인 진행(proceeding) 제조 프로세스에서의 결함은 이에 의해서 판정될 수
없다.
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특히 플로트 유리의 또는 다른 광학적으로 투명한 재료의, 평판형(flat) 유리의 결함들을 검출하기 위한 그리고[0003]
광학적 품질을 판정하기 위한 방법 및 장치가 DE 198 13 072 A1에 개시되어 있다. 이러한 경우에, 비디오 카메
라는 유리를 통해서 조명 장치를 실질적으로 관찰하고, 여기에서 초점이 유리 상에 위치되고 그리고 비디오 카
메라는 유리의 품질을 기초로 신호들을 생성하고 그리고 상기 신호들이 평가된다. 그러한 공지된 방법은 데드
존들(dead zones)이 존재하지 않고 편향(deflection)(굴절력)의 세기 및 유리 결함의 크기가 판정될 수 있는 방
법의 고안이라는 목적을 달성하기 위한 것이다. 또한, 유리 내의 결함의 핵들의 측정이 가능할 것이다. 이러
한 목적은, 하나의 외측 엣지로부터 다른 외측 엣지까지 규정된 방식으로 컬러 및/또는 세기가 변화되는 조명
장치를 이용한다는 점에서, 또한 유리의 무결점 상태에서, 비디오 카메라의 관찰 스폿이 조명 장치의 중심에 대
략적으로 위치된다는 점에서, 조명 장치가 컬러 및/또는 세기에 따라서 2개의 비디오 신호들(u1, u2)로 할당된다
는 점에서, 그리고 비디오 신호들(u1, u2)의 세기의 변화를 이용하여 유리의 품질을 평가한다는 점에서, 달성된
다. 마찬가지로, 플로트 유리의 연속적인 진행 제조 프로세스에서의 결함들은 이러한 방법에 의해서 판정될 수
없다.
발명의 내용
해결하려는 과제
그에 따라, 본원 발명에 따른 장치 및 상응하는 방법 각각은, 플로트 유리로서 공지된 액체 유리의 밴드의 생산[0004]
프로세스들의 작업 중에, 예를 들어 개재물들, 기포들 또는 바람직하지 못한 유사한 현상과 같은 형태의 결함들
의 형성이 연속적으로 검출될 수 있고 그리고 모니터링될 수 있는 장치 및 방법을 제공하기 위한 목적을 기초로
한다.
과제의 해결 수단
이러한 목적은 제 1 항에 기재된 장치에 의해서 그리고 제 8 항에 기재된 방법에 의해서 달성된다. 본원 발명[0005]
에 따른 장치는 이하에서 보다 구체적으로 설명될 것이다.
도면의 간단한 설명
도 1은 본원 발명에 따른 장치의 사시도,[0006]
도 2는 도 1에 따른 장치의 정면도,
도 3은 도 1에 따른 장치의 평면도,
도 4는 도 1에 따른 장치의 측면도,
도 5는 조명 수단의 사시도,
도 6은 스캐닝 센서의 조정에 대한 기능적인(functional) 도면.
발명을 실시하기 위한 구체적인 내용
본원 발명의 기본적인 사상은, 첫 번째로, 예를 들어 라인 카메라 형태의, 스캐닝 센서들로서 공지된 수단에 의[0007]
해서, 플로트 유리 밴드의 흐름을 연속적으로 모니터링하고 그리고, 두 번째로, 또한 이러한 연속적인 모니터링
작동 중에, 수리 또는 부분적인 불량(failure)의 경우에, 개별적인 스캐닝 센서들을 재조정 또는 교체할 수 있
는 가능성을 제공할 수 있다.
도 1은 본원 발명에 따른 장치의 사시도를 도시한다. 부감(bird's-eye view)에 의한 표상으로부터, 용융로로부[0008]
터 멀리 유동하여 진행하는 유리 밴드가 걸쳐지는 전체적인 브릿지-형 개념을 확인할 수 있을 것이다. 유리 밴
드는 도시되지 않았고, 단지 유리 밴드를 상부에서 이송하는 작동 롤러들 만이 도시되어 있다. 관찰 및 유지
보수 브릿지의 좌측 및 우측이 도시되어 있으며, 각각의 경우에 계단들이 관찰 및 유지보수용 보행 통로로 연결
되어 있다. 여기에서, 전체적인 보호용 크래딩(cladding)의 일부만이 도면부호 '1'로서 표시되어 있다.
도 2는 도 1에 따른 장치의 정면도를 도시한다. 도 1로부터 알 수 있는 계단들에 더하여, 베이스 프레임(6) 상[0009]
에서 지지되는 유지보수용 브릿지(10)가 단면으로 도시되어 있다. 평판형 유리(7)의 스트립이 여기에서 이송
롤러(8) 상에 도시되어 있고, 그러한 이송 롤러(8)는 가로-부재(9) 상에 장착되고 구동부(5)에 의해서
구동된다. 베이스 프레임(6)의 상부 종료부로서, 유지보수 브릿지(10)의 레일링들 위쪽에, 스캐닝 센서들(2)을
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위한 체결 브릿지(3)가 단면으로 도시되어 있다. 여기에서, '11'은 조명 기구(17)를 위한 작동 레일을 나타내
고, '12'는 이러한 조명 기구를 위한 위치적 지지부를 나타낸다. 전체적인 장치의 좌측에서, 스캐닝 센서들
(2)을 위한 체결 브릿지(3)의 승강 기구(13)가 도시되어 있다. 상응하는 승강 기구(13)가 체결 브릿지(3)의 우
측에 위치되어 있다. 이러한 승강 기구(13)를 이용함으로써, 스캐닝 센서들(2) 및/또는 연관된 조정 기구(14)
중 하나 이상의 수리를 위해서 전체 체결 브릿지(3)를 상승시킬 수 있고, 그리고 피봇팅될 수 있는 각각의 타겟
기구(16)에 의해서, 평판형 유리(7)의 기준 표면이 없이도 각각의 스캐닝 센서들(2)을 조정할 수 있으며, 상기
타겟 기구(16)가 없는 경우에는 평판형 유리(7)의 기준 표면이 필수적일 것이다. 비록, 이러한 것이 결함 검출
을 짧은 중단을 필요로 하지만, 내부로 피봇팅될 수 있는 타겟 기구(16)에 의해서 스캐닝 센서를 조정하는 과정
이 종래 기술에 대비하여 충분히 짧아질 수 있고, 이는 유리 밴드의 연속적인 작동이 경제적이 될 수 있게
한다. 이는, 경제성의 관점에서, 이전에 필수적이었던 복잡한 중단(breaking off) 및 유리 밴드의 용융에 대비
하여, 결함 검출 가능성의 일시적인 검출 실패를 수용(tolerable)할 수 있을 것으로 보인다.
좌측의 상응하는 기구(4)와 유사하게, 추가적인 조명 기구(4)가 유지보수 브릿지(10)의 우측에서 단면으로 도시[0010]
되어 있다. 이러한 기구는 평판형 유리의 스트립의 전체 폭에 걸쳐지나, 그 중앙 부분은 이러한 도면에 도시되
어 있지 않다. 이러한 기구의 기능은 도 6에 대한 설명 중에서 후술될 것이다.
도 3에서, 도 1에 따른 장치를 위에서 본 그림이 도시되어 있다. 공지된 유지보수 브릿지(10) 및 전술한 이송[0011]
롤러(8)에 더하여, 조명 기구(17)를 위한 지지부(12)의 물리적 할당을 여기에서 보다 잘 확인할 수 있다. 이러
한 위치로부터, 스캐닝 센서들(2)에 대한 조정 기구들(14)(여기에서 8개가 도시됨)이 용이하게 확인될 수 있다.
이러한 조정 기구들(14)은 승강 기구(13)에 의해서 스캐닝 센서들(2)과 함께 전체적으로 상승 및 하강될 수 있
을 뿐만 아니라, 또한 각각이 본질적으로 모두 3개의 공간적 좌표를 따라서 서로 독립적으로 이동될 수 있는 가
능성을 가진다.
그에 따라, 첫 번째로, 체크하고자 하는 유리 스트립 모두의 이미지들의 갭이-없는(gap-free) 조합을 보장하기[0012]
위해서, 스캐닝 센서들(2)이 여기에서 X 방향으로 표시된 체결 브릿지(3)의 길이방향 범위의 방향을 따라서, 예
를 들어 양의 X 방향과 음의 X 방향 모두를 따라서 이동될 수 있어야 하는 것이 필수적이다. 이는, 이러한 방
식에서, 인접한 스캐닝 센서(2)의 이미지가 시작되는 곳에서 스캐닝 센서(2)의 이미지가 종료되는 제어에 의해
서 보장될 수 있을 것이다.
또한, 각각이 개별적인 스캐닝 센서(2)의 정확한 정렬을 위해서, 중심이 선형 조명 수단(20)(진동;[0013]
oscillating)과 조명 수단(23)(상시(constant) 조명) 사이의 분할 라인 상에 정확하게 정렬될 필요가 있다(도
5). 이러한 목적을 위해서, 양의 및 음의 Y 방향을 모두를 따른 운동이 필수적으로 가능하여야 하고, 그러한 Y
방향은 X 방향과 수평 평면을 형성하고 그리고 X 방향과 직각을 형성한다.
또한, 개별적인 스캐닝 센서(2)가 후술하는 타겟 기구(16)에 의해서 정밀하게 조정되어야 하는 경우에, 수직 방[0014]
향 즉, Z 축을 따른 개별적인 스캐닝 센서(2)의 가능한 변위가 필수적이다.
특별한 구체적인 예로서, 플로트 유리 생산의 작동 작업 중에, 개별적인 스캐닝 센서(2)의 재-조정의 경우에,[0015]
연관된 조정 기구(14)를 가지는 각각의 스캐닝 센서(2)가 유리 유동의 방향을 따라서 가능한 가장 근접한 거리
에서 자체의 연관된 제 2 버전을 가진다는 점에서, 갭이-없는 테스팅 작업이 유지된다. 이러한 제 2 버전은 완
전한 교체 또는 조정 동안에 기능적인 항목들(terms)의 상응하는 제 1 버전을 대체하기 위한 목적을 위해서 이
용된다. 이러한 목적을 위해서, 2개의 조명 수단(20 및 23) 사이의 분할 라인 상의 동일한 영역을 커버하기 위
해서, 물리적 조건들에 따라서, 제 2 버전 내에서 추가적인 약간의 경사 기울기의 가능성을 제공하기 위한 특별
한 구체적인 실시예가 필요할 수 있을 것이다. 이는, 스캐닝 센서(2)의 각각의 제 1 버전 및 제 2 버전의 수평
방향 오프셋에 의해서 그리고 후자의 연관된 조정 기구(14)에 의해서 필수적인 된다.
도 4는 도 1에 따른 장치의 측면도를 도시한다. 위에서부터 시작하여, 여기에서 연관된 조정 기구(14)를 가지[0016]
는 스캐닝 센서(2)가 단면으로 도시되어 있다. '16'은 내측으로 피봇팅될 수 있는 타겟 기구(16)를 나타내고,
그러한 타겟 기구의 기능은 도 6에 관한 설명에서 보다 구체적으로 기술될 것이다. 보다 아래에, 좌측에 하나
만이 표시된 연관된 보호용 패널들(15)을 가지는 조명 기구(17)를 확인할 수 있을 것이다. 베이스 프레임(6)에
연결되는 가로-부재(19)는 조명 기구의 메인 비임(18)을 지지한다. 후자의 위쪽에, 도 2의 길이방향 도면에서
확인할 수 있는 작동 레일(11)이 단면으로 도시되어 있다. 수리 목적들을 위한 작업 중에 조명 기구(17)의 후
퇴를 허용할 목적으로, 그리고 수리가 실행된 후에, 신속한 삽입을 보장하기 위한 목적으로, 작동 레일(11)이
이용된다. 냉각 기구(21)는 조명 기구(17)의 냉각을 보장하고 그에 따라 조명 기구(17), 조명 기구의 조명 수
단(20, 23)의 정확한 작업 온도의 유지를 보장한다.
공개특허 10-2013-0046443
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도 5에서, 조명 수단(20, 23)의 사시도가 확대된 형태로 도시되어 있다. 조명 수단은 조사(illuminate)하고자[0017]
하는 유리 밴드의 폭에 따른 그들의 길이방향 범위와 관련하여 모듈형 방식으로 간편하게 조립된다. 이와
함께, 특정 범위까지, 그들은 병렬로 연장하는 2개의 조명 스트립들을 형성하고, 그 스트립들 중 하나는 그들의
조명 세기가 진동하는 선형으로 배열된 조명 수단(20)을 가지고, 그리고 다른 하나는 그들의 조명 세기가 일정
한 선형으로 배열된 조명 수단(23)을 가진다. 여기에서, 진동하는 조명 세기의 주파수는 바람직하게 라인 카메
라의 라인 주파수와 그리고, 각각, 스캐닝 센서(2)의 활성화 주파수와 동일하다. 이러한 주파수들이 서로 정수
배가 되는 것이 추가적으로 바람직하다. 결함이 없는 유리의 경우에, 각각의 스캐닝 센서의 관찰 중심, 예를
들어 비디오 카메라는 조명 수단(20) 및 조명 수단(23)의 경계선의 영역 내에 놓인다. 유리 결함이 발생된 경
우에, 이러한 관찰 중심은 광의 굴절의 결과로서 이러한 중심 위치로부터 벗어나 변위된다. 결과적으로, 검출
된 유리 결함의 위치에서, 상이한 영향들이 관련 스캐닝 센서(2)의 영역에서의 출력 신호에 영향을 미친다. 스
캐닝 센서(2)로부터의 2개의 연속적인 신호들의 변화 및 관련 스캐닝 센서(2)의 영역 내의 결함 위치 및/또는
포지션에 관한 추가적인 정보로부터, 신규한 방식으로, 결과적인 오류 신호가 서로 관련된 2개의 광학적 채널들
의 측정된 값들의 비교로부터 획득될 수 있고 그리고 결함 검출 및 추가적인 신호 처리를 위해서 회로 구성체
(arrangement)로 공급된다.
보다 구체적인 설명을 위해서, 도 5에서, 두 부분(A1 및 A2)의 구역이 도시되어 있다. 여기에서, 2개의 조명[0018]
수단(20, 23)의 분할선에 중첩되는 보다 큰 구역(A1)이 양 조명 수단에 대해서 할당되는 한편, 구역(A2)은 일정
한 광 세기를 가지는 조명 수단(23)의 영역에 대해서만 할당된다. 이러한 광학적 채널들의 픽셀별(pixel by
pixel) 측정의 영역 내에서, 2개의 구역들(A1 및 A2)은 상이한 측정값들을 전달하고, 그러한 상이한
측정값들은, 특정 문턱값(threshold values)의 영역에서, 측정된 결함의 타입 및 범위에 관한 안전한 결론들을
허용한다.
냉각 기구(21)는 2개의 조명 스트립들의 하부에 작용한다. 광 확산기로서 동시에 작용하는 커버(22)는 체크하[0019]
고자 하는 유리 밴드의 하부에 대향하는 조명 스트립들의 종료부를 형성한다. 본원 발명에 따른 장치의 특별한
구체적 실시예로서, 전술한 조명 수단(20, 23)의 제 2 버전이 제공될 수 있고, 그러한 제 2 버전은, 위치(제 1
버전에 평행)와 관련하여, 상기 조정 기구(14) 및 각각의 연관된 스캐닝 센서(2)의 전술한 제 2 버전에 상응한
다. 조명 수단 유닛의 또는 그 부분들의 전체적인 대체 또는 수리의 경우에, 이러한 추가적인 구성체는 이러한
제 2 버전으로의 자동 변경 작업에 의해서 본원 발명에 따른 전체 장치의 방해받지 않는 작업을 보장한다. 각
각의 스캐닝 센서(2)에 대한 각각의 조명 기구(14) 상의 전술한 추가적인 틸팅 장치는 이러한 경우에 필수적이
지 않는데, 이는 조정 기구(14)의 제 2 버전이 조명 수단(20, 23)의 제 2 버전의 중심선의 바로 위에 배열되기
때문이다. 이제, 조정 기구(14) 또는 조명 수단(20, 23)이 되는, 각각의 제 2 버전이 제 1 버전의 상류에 배열
되는데, 이는 접근하는 결함을 미리 검출하고 그리고 추가적인 평가를 위해서 그 결함을 제공하기 위한 것이다.
당연히, 마찬가지로, 이러한 제 2 버전은 내부로 피봇팅될 수 있는 상응하는 추가적 타겟 기구들(16)을 구비하
여야 한다.
도 6은 스캐닝 센서의 조정에 대한 기능적인 도면을 도시한다. 전술한 조명 기구(17)의 위에서, 체크하고자 하[0020]
는 유리 밴드가 도시된 롤러들 상에서 작동한다. 만약, 스캐닝 센서(2)의 새로운 조정 또는 재조정이 필요하게
된다면, 조정 기구(14)에 의해서, 적절한 스캐닝 센서(2)가 약간 상승되고 그리고 동시에 타겟 기구(16)가 조명
기구(17)의 비임 경로 내로 피봇팅된다.
이러한 타겟 기구(16)는 특정 두께 및/또는 컬러의 단순한 선들 및/또는 교차하는(crossed) 선들 형태의 고정된[0021]
마크들(fixed marks)을 가지고, 그러한 마크들에 의해서 각각의 센서(2)가 규정된 프로그램에 따라서 희망하는
기준 위치에 자동적으로 정렬될 수 있다.
여기에서, 유리 밴드로부터의 타겟 기구(16)의 거리에 상응하는 범위까지 적절한 스캐닝 센서(2)가 상승된다.[0022]
이어서, 조정 기구(14)가 타겟 기구의 수평방향 정렬의 광학적 사전 규정(predefinitions)에 따라서 관련 스캐
닝 센서(2)를 조정한다. 스캐닝 센서의 조정이 실행된 후에, 타겟 기구(16)가 다시 반대로 피봇되고 그리고 스
캐닝 센서가 그 센서의 유리 플레이트(7) 위쪽의 미리 규정된 작업 높이까지 다시 하강된다.
추가적인 조명 기구(4)가, 예를 들어, LEDs, UV 램프들, 석영 램프들, 제논 램프들 또는 헬륨 램프들과 같은 추[0023]
가적인 조명 수단을 가지며, 그러한 추가적인 조명 수단은 원치 않는 유리 성질들을 판정할 수 있는 추가적인
가능성을 제공한다. 이러한 것들은 각각의 경우에 유리의 타입 및 생산되는 유리 혼합물에 대한 특정 요건 또
는 검출하고자 하는 유리 결함들에 의존한다.
특별한 구체적인 실시예에서, 위치가 각각의 스캐닝 센서(2)에 대해서 할당된, 예를 들어 레이저 또는 초음파에[0024]
공개특허 10-2013-0046443
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의해서, 유리 두께를 측정하기 위한 추가적인 기구가 또한 제공될 수 있다. 그러한 기구에서, 생산되는 유리
밴드의 두께가 생산 프로세스 동안에 추가적으로 검출되고 그리고 기록되고, 횡방향으로 및 길이방향으로 분석
된다. 이러한 측정값들을 이용하여 플로트 유리 밴드의 생산 프로세스를 모니터링할 수 있을 것이다.
본원 발명의 특별한 구체적인 실시예에서, 플로트 유리 내의 결함 검출과 동시에, 유리 밴드 내의 응력들을 측[0025]
정하고 모니터링하기 위한 장치가 제공된다는 것을 추가적으로 이해할 수 있을 것이다. 이를 위해서, 편광이
유리 밴드로 전송되는 방법에 제시되고, 여기에서 발생되는 응력이 복굴절(birefringence)을 일으키고, 그리고
발생되는 광선을 분석하여 복굴절에 의해서 유발된 변화들을 판정하고 그에 따라 응력 발생을 판정한다. 이러
한 응력들은 각각의 경우에 유리 밴드의 폭에 걸쳐서 연속적으로 스위핑(sweeping)함으로써, 복굴절의 타입의
전술한 변화들을 기록하고, 그리고 스위핑된 관련 지점에서의 온도를 동시에 측정함으로써 판정된다. 각각의
측정 지점에서의 측정된 복굴절의 변화들 및 연관된 측정 온도로부터, 관련 측정 지점에서의 그리고, 전체적으
로, 그에 따른 유리 밴드의 전체 폭에서의 영구적인 응력이 판정될 수 있다. 유리 밴드의 폭을 따른 이러한 응
력 변동들의 연속적인 측정은 길이 방향을 따른 플로트 유리 밴드 내의 응력들에 대한 중요한 지표들(pointer
s)을 공급하고, 이는 전체 제조에 대한 높은 잠재적인 위험성을 나타낸다.
이러한 경우에, 바람직하게 복사된 편광 광선에 노출된 영역은 20 mm 미만의 지름을 가진다. 온도 측정은, 예[0026]
를 들어, 광학적 고온계를 이용하여 실시될 수 있다.
복잡한 운동 프로세스들 및 사용되는 센서들의 신호 프로세싱의 제어는 특별한 제어 프로그램을 필요로 한다. [0027]
부호의 설명
1: 클래딩 2: 스캐닝 센서(라인 카메라들)[0028]
3: 스캐닝 센서들을 위한 체결 브릿지 4: 추가적인 조명 기구
5: 이송 롤러들의 구동부 6: 베이스 프레임
7: 평판형 유리 8: 이송 롤러
9: 이송 기구에 대한 가로-부재 10: 유지보수 브릿지
11: 조명 기구용 작동 레일 12: 조명 기구의 지지부
13: 스캐닝 센서들에 대한 체결 브릿지의 승강 기구
14: 스캐닝 센서들의 조정 기구
15: 조명 기구의 조명 샤프트의 보호용 패널
16: 내측으로 피봇팅될 수 있는 타겟 기구
17: 조명 기구 18: 조명 기구의 메인 비임
19: 가로-부재 20: 조명 수단(진동)
21: 냉각 기구 22: 조명 확산기 및 커버
23: 조명 수단(상시) 24: 구역(A1)의 부분
25: 구역(A2)의 부분
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도면
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